LUNA 4615
光學元件分析儀

Luna 6415 是一款快速且易於使用的光學元件和模塊分析儀。
可以快速的測量和分析光學元件的插入損耗 (IL) 和回波損耗 (RL) 分佈,以及長度。

Luna 6415 利用光頻域反射計 (OFDR) 技術來測量作為距離函數的背向散射或透射光。 極高的靈敏度和採樣分辨率 (20 μm) 使 Luna 6415 成為光子集成電路 (PIC) 和矽光子學的理想測試工具。
Luna 6415 通過使用單個儀器測量反射或傳輸中的 RL、IL 和長度,降低了測試的成本和復雜性,同時提高了效率。

定價:NT.0
原價:NT.0

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產品詳細

主要特點

  • 準確的回波損耗 (RL) 和插入損耗 (IL) 分析儀
  • 跟踪和分析回波損耗 (RL) 和插入損耗 (IL) 與長度的關係
  • 分析反射和透射中的組件
  • IL和RL的光譜分析
  • 自動 RL/IL 事件檢測
  • 通過 SCPI 命令遠程控制

主要規格

採樣分辨率(兩點間) 20 μm
中心波長 1546.7 nm
最大測試長度 50 m(在反射模式下)
RL 動態範圍 70 dB
靈敏度 -135dB

如需完整規格,請下載規格表。

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