EXFO CT440 光被動元件測試儀
EXFO的CT440可讓您快速而準確地測試被動光學元件（例如MUX / DEMUX，濾波器，分離器）和模塊（ROADM，WSS）。更重要的是，該裝置涵蓋了從1240到1680 nm的光譜範圍，可以在整個電信頻段上進行測量。使用PDL選件，CT440可以同時測量插入損耗和偏振相關損耗。
全頻帶掃描
CT440（SMF型號）可以在1240至1680 nm之間工作，並與EXFO的T100S-HP系列可調雷射完全兼容。當使用多個TLS時，CT440可以自動在雷射之間切換，以實現無縫的全頻帶測量。與DUT的單連接意味著不需要外部開關。
快速插入損耗測量
CT440具有高速電子技術和光學干涉測量技術的獨特結合。四個集成的檢測器使您可以在一次雷射掃描中同時測量動態範圍為65 dB的四個通道。此外，在任何掃描速度下都可實現±5 pm的波長精度，因此在測量速度和精度之間沒有任何牴觸。
準確的插入損耗測量
CT440是一種經濟高效的解決方案，不會影響性能。憑藉其監控光電探測器，可調的採樣分辨率，出色的波長精度和內置的波長計，當與可調雷射源和PC相連時，它可以在一個盒子中提供準確測量所需的一切。
主要特點
- 快速傳遞函數測量
- 1240–1680 nm波長范圍（SMF模型）
- PM和PDL選項
- 1–250 pm波長分辨率
- 波長精度為±5 pm
- 單次掃描的動態範圍為65 dB
- 最多組合四個可調雷射（SMF型號）
- 四個內部探測器，可同步擴展
應用
- 光子集成電路（PIC）測試
- 波長選擇開關測試
- 濾光片測試