EXFO T200S 高功率可調雷射

測試高速矽光子集成電路(PICs)
集成矽光子學可以包括具有高對比度光譜的複雜光學元件。 
例如，環形諧振器可能具有非常尖銳的特徵，因此難以特性化插入損耗。 
除了插入損耗之外，某些設備還需要擴展測量回波損耗或偏振相關損耗，並具有相同的精度。 
最後，還需要同時測試多個器件或單個器件的輸出，以加快 PIC 特性化。 
為了測試此類設備，T200S 連續可調雷射可以與 EXFO 的組件測試平台 CTP10 聯合操作。 
CTP10 具有高分辨率和高精度光譜測量，是一種集成解決方案，可充分利用 T200S 的全部潛力，以 200 nm/s 的掃描速度運行。T200S 還與 CT440 兼容，這是 EXFO 的模組型元件測試儀，以 100 nm/s 的速度運行。

行業領先的技術
具有高光譜純度的 10 dBm 輸出功率：雷射在整個調諧範圍內以 10 dBm 的標準光輸出功率表現出晶瑩剔透的光譜。
雷射腔消除了寬帶源自發發射 (SSE)，而不會影響光功率。通過主動跳模控制在整個雷射掃描過程中保持高光譜純度，確保可靠且可重複的波長掃描。

高速可調性：雷射掃描速度為 100 nm/s，可配置可選的 200 nm/s 掃描速度。當速度至關重要時，T200S 可確保可重複且快速的測量。

逐步或連續掃描波長掃描：有兩種用戶模式，針對特定用途進行了優化：TUNE 或 SWEEP。
TUNE模式雷射控制可確保在任何波長下都具有出色的線寬或提供快速的“首選”波長調諧。 
SWEEP模式可以在雷射的整個波長范圍內執行高速無跳模掃描。

領導行業的可調諧雷射
T200S 是 EXFO 連續可調諧雷射系列的一部分，該系列還包括 T500S，這是一種波長范圍從 1240 到 1680 nm 的可調諧雷射。
有關詳細信息，請參閱 T500S 規格表。