EXFO CTP10 被動光元件測試平台

CTP10是一種可全天候不間斷運行的被動光元件測試平台。它使您能夠以70 dB的動態範圍、前所未有的速度以及解析度，通過一次掃描測量插損（IL）和回損（RL）。CTP10是測試DWDM網中所用大埠數被動光元件以及光子積體電路的理想儀錶。

下一代平台和模組
CTP10平台可安裝最多10個可熱插拔模組。它內置作業系統，可處理大量的資料。

最快的掃描和步進式插損與回損測量
CTP10能夠在一次掃描中測量各種元器件的插損（IL）和回損（RL），動態範圍可達70 dB。

GUI強大直觀
其內置的軟體提供強大、直觀的GUI，可在兩個螢幕上顯示：一個用於測試設備設置的圖形化配置，另一個用於顯示和分析測量結果。