LUNA 4615 光學元件分析儀
Luna 6415 是一款快速且易於使用的光學元件和模塊分析儀。
可以快速的測量和分析光學元件的插入損耗 (IL) 和回波損耗 (RL) 分佈，以及長度。
Luna 6415 利用光頻域反射計 (OFDR) 技術來測量作為距離函數的背向散射或透射光。 極高的靈敏度和採樣分辨率 (20 μm) 使 Luna 6415 成為光子集成電路 (PIC) 和矽光子學的理想測試工具。
Luna 6415 通過使用單個儀器測量反射或傳輸中的 RL、IL 和長度，降低了測試的成本和復雜性，同時提高了效率。
主要特點
- 準確的回波損耗 (RL) 和插入損耗 (IL) 分析儀
- 跟踪和分析回波損耗 (RL) 和插入損耗 (IL) 與長度的關係
- 分析反射和透射中的組件
- IL和RL的光譜分析
- 自動 RL/IL 事件檢測
- 通過 SCPI 命令遠程控制
主要規格
| 採樣分辨率(兩點間) | 20 μm |
| 中心波長 | 1546.7 nm |
| 最大測試長度 | 50 m（在反射模式下） |
| RL 動態範圍 | 70 dB |
| 靈敏度 | -135dB |
如需完整規格，請下載規格表。